X荧光光谱仪 Ux-230 更短光路更高 轻松应对RoHS&WEEE指令、无卤化指令、Reach法规、ELV指令、八大属测试、无磷、无硫测试,控制受限有害物质。 一、Ux-230产品特点 业界短光... ...
X-Strata980(X荧光镀层测厚及ROHS分析仪) 产品简介: X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器的信... ...
CMI760线路板面/孔铜厚测量仪 CMI 760专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。 CMI 760可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两... ...
CMI900 X射线荧光镀层测厚仪 应用 CMI900X射线荧光镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量,从质量管理到成本节约有着广泛的应用... ...
X-MET5000_RoHS(玩具及消费性电子产品有害物元素分析) 仪器简介 X-MET5000的主要优势就在于其轻元素处理(LET)模式,此模式可允许对属进行快速、准确的分析——即使样品中存在铝和... ...